今までにない使い安さと安定性を実現
従来のわずらわしい調整の手間やメンテナンスのない 新しいタイプのダスト濃度測定システムが誕生しました。 さまざまな環境での実績を基に開発された 「DDM-2001」 （検出器特許）が、 今後さらに高度化が求られる集じん技術、 SPM対策をバックアップします。 ９８年７月に環境庁がばいじん規制強化を打ち出し、地球環境保全のための集じん SPMへの早急な対策が求められています。 こうした中、大気中へのダスト放出を監視 するダスト濃度計は、大型の燃焼設備工場では必要不可欠なものとなっています。 しかし、等速吸引法（JIS法）では連続測定ができない為、電気集じん機、バグフィルター の除じん性能が不明確。さらに、今までの光透過式ダスト濃度計ではメンテナンスに手間がかかり、す ぐにガラス面が汚れてしまい指示値に信憑性がないのが現状です。光散乱方式により 開発された本システム「DDM-2001」は、今までにない連続測定と、メンテナンスフリー を可能にしました。検出感度が高いため、バグフィルター破損の監視に使用されるほか、 JIS法との相関関係をデータ管理すれば連続測定時のダスト質量（mg/Nm3）を明 確にします。「DDM-2001」は２１世紀の環境管理に求められる確実性と快適性を実 現する画期的な新システムです。
直接光散乱方式を採用して高性能、メンテナンスフリーを実現
日本国内初の直接光散乱方式を採用することにより、より高性能、しかもメンテナンスフリーを実現しました。光散乱方式では光をばい煙に投射し、ばい塵に反射した光を測定することにより、ばい煙中のばい塵量を測定します。従来のダスト濃度計ではダスト濃度計測部を頻繁に清掃しないと、計測精度が落ちる問題がありました。DDM2001では田中電気研究所が特許を取得したメンテナンスフリーのシステムが光学センサー部に採用されています。そのため、従来の製品のように頻繁にセンサー部の清掃をする必要がありません。